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Prospects for aberration corrected electron precession

机译：像差校正电子进动的前景

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Recent developments in aberration control in the TEM have yielded a tremendous enhancement of direct imaging capabilities for studying atomic structures. However, aberration correction also has substantial benefits for achieving ultra-resolution in the TEM through reciprocal space techniques. Several tools are available that allow very accurate detection of the electron distribution in surfaces allowing precise atomic-scale characterization through statistical inversion techniques from diffraction data. The precession technique now appears to extend this capability to the bulk. This article covers some of the progress in this area and details requirements for a next-generation analytical diffraction instrument. An analysis of the contributions offered by aberration correction for precision electron precession is included.
机译：TEM中像差控制的最新发展极大地增强了直接成像功能的研究原子结构。但是，像差校正对于通过互易空间技术在TEM中实现超分辨率也具有实质性的好处。有几种工具可以非常精确地检测表面中的电子分布，从而可以根据衍射数据通过统计反演技术对原子尺度进行精确表征。现在，岁差技术似乎将这种功能扩展到了大部分。本文介绍了该领域的一些进展，并详细介绍了下一代分析衍射仪的要求。包括对像差校正对精密电子进动的贡献的分析。

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