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Lebensdauervorhersage fur Lotstellen mit X-FEM

机译：X-FEM对焊点的寿命预测

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Lebensdauervorhersage fur Lotstellen unter thermomechanischer Belastung ist unumganglich fur die Elektronikindustrie um eine gewisse Qualitat der Produkte im Feld zu garantieren. Semi-empirische Methoden werden oft benutzt um die mittlere Lebensdauer abzuschatzen. Allerdings muss die Standardabweichung ebenfalls berucksichtigt werden, um eine vollstandige Aussage uber die Lebensdauer machen zu konnen. Wir schlagen eine Methodik vor, in der Schadigung basierend auf mikrostrukturellen Eigenschaften der Lotstelle berechnet wird. Eine Anzahl zufalliger Mikrostrukturen wird dazu generiert. Das Strukturproblem wird numerisch mit der X-FEM gelost. Die mittlere Risslange sowie die Standardabweichung werden mit experimentellen Daten verglichen.
机译：为了确保在现场获得一定质量的产品，在热机械负载下对焊点的使用寿命进行预测对于电子行业至关重要。半经验方法通常用于估计平均寿命。但是，还必须考虑标准偏差，以便能够对使用寿命进行完整说明。我们提出了一种方法，其中基于焊点的微结构特性计算损伤。为此产生了许多随机的微观结构。用X-FEM数值解决了结构问题。将平均裂纹长度和标准偏差与实验数据进行比较。

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