机译:基于计算机断层扫描的SnBi57Agl焊点空隙及其对可靠性的影响
Computed tomography; Solder joints; Voids; Reliability;
机译:基于计算机断层扫描的SnBi57Agl焊点空隙及其对可靠性的影响
机译:片式电阻器下面的Sn-Ag-Cu焊点的空隙率及其对接点强度和热机械可靠性的影响
机译:裸铜上共晶SnPb焊点的Kirkendall空隙形成及其对接点可靠性的影响
机译:空隙对LED应用中焊点可靠性影响的仿真分析
机译:锡铅和无铅焊点在等温老化下的微观结构变化及其对热疲劳可靠性的影响,包括混合焊点在等温老化下的微观结构变化
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:基于计算的断层扫描基于空隙的空隙分析及其对可靠性的影响