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首页> 外文期刊>Journal of Non-Crystalline Solids: A Journal Devoted to Oxide, Halide, Chalcogenide and Metallic Glasses, Amorphous Semiconductors, Non-Crystalline Films, Glass-Ceramics and Glassy Composites >Light filtering in a-SIC : H multilayers stacked devices using the LSP technique
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Light filtering in a-SIC : H multilayers stacked devices using the LSP technique

机译：使用LSP技术在a-SIC：H多层堆叠设备中进行光过滤

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Light filtering in a-SiC:H stacked multilayer devices is analyzed, using the Laser Scanned Photodiode technique. Results show that the p-i-n-p-i-n device, under appropriated read-out voltages, behaves itself as an imager and a filter giving information not only on the position where the optical image is absorbed but also on its wavelength and intensity. Identification of the red, green and blue components of the spectrum and simultaneous image recognition were achieved at read-out voltages that are able to cancel the self-bias effect due to the different light penetration depth. These voltages shift from positive to negative values as the wavelength of the impinging photons across the back absorber increases. A numerical simulation supports the color filter analysis. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：使用激光扫描光电二极管技术分析了a-SiC：H堆叠多层器件中的光过滤。结果表明，在适当的读出电压下，p-i-n-p-i-n器件本身充当成像器和滤光片，不仅提供有关光学图像吸收位置的信息，而且还提供有关其波长和强度的信息。在读出电压下实现了光谱中红色，绿色和蓝色成分的识别以及同时的图像识别，这些电压由于不同的光穿透深度而能够消除自偏压效应。随着跨背吸收器的入射光子的波长增加，这些电压从正值变为负值。数值模拟支持滤色镜分析。 （c）2006 Elsevier B.V.保留所有权利。

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