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Force calibration in lateral force microscopy: a review of the experimental methods

机译：侧向力显微镜中的力校准：实验方法综述

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Lateral force microscopy (LFM) is a variation of atomic/scanning force microscopy (AFM/SFM). It relies on the torsional deformation of the AFM cantilever that results from the lateral forces acting between tip and sample surface. LFM allows imaging of heterogeneities in materials, thin films or monolayers at high spatial resolution. Furthermore, LFM is increasingly used to study the frictional properties of nanostructures and nanoparticulates. An impediment for the quantification of lateral forces in AFM, however, is the lack of reliable and established calibration methods. A widespread acceptance of LFM requires quantification coupled with a solid understanding of the sources of uncertainty. This paper reviews the available experimental calibration methods and identifies particularly promising approaches.
机译：横向力显微镜（LFM）是原子/扫描力显微镜（AFM / SFM）的一种变体。它依赖于AFM悬臂的扭转变形，该变形是由作用在尖端和样品表面之间的侧向力引起的。 LFM允许以高空间分辨率对材料，薄膜或单层中的异质性成像。此外，LFM被越来越多地用于研究纳米结构和纳米颗粒的摩擦性能。然而，在AFM中量化侧向力的一个障碍是缺乏可靠且成熟的校准方法。 LFM的广泛接受要求量化，并对不确定性来源有扎实的理解。本文回顾了可用的实验校准方法，并确定了特别有前途的方法。

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