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首页> 外文期刊>日本结晶学会志 >Development of an Imaging-Plate X-Ray Diffractometer for Rapid Measurement with a Laboratory Source
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Development of an Imaging-Plate X-Ray Diffractometer for Rapid Measurement with a Laboratory Source

机译：成像板X射线衍射仪的开发，可通过实验室源进行快速测量

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A new imaging-plate X-ray diffractometer of theWeissenberg-camera type with an adjustable multilayer-linescreem system (IPD-WAS) has been developed. Prior to datacollection, IPD-WAS automatically aligns an axis of a samplecrystal and sets the multilayer-line (MLL) screens. ForWeissenberg photography, IPD-WAS system uses two cylindricalimaging plates (IPs). The IPs are read by a rotary readoutmechanism. Owing to the good performance of the adjustableMLL screen system and the rotary readout mechanism, IPD-WASachieves a data acquisition time of about one hour with reflectiondata of sufficient quality, which is suitable for time-resolved X-raycrystallography. IPD-WAS also enables faster crystal structuredeterminations of small molecules, including unstable crystals.
机译：已开发出具有可调节多层线型creem系统（IPD-WAS）的新型Weissenberg相机型成像板X射线衍射仪。在收集数据之前，IPD-WAS自动对齐样品晶体的轴并设置多层线（MLL）屏幕。对于魏森伯格摄影，IPD-WAS系统使用两个圆柱成像板（IP）。通过旋转读出机制读取IP。由于可调MLL屏幕系统和旋转读出机制的良好性能，IPD-WA通过高质量的反射数据可实现约一小时的数据采集时间，适用于时间分辨的X射线晶体学。 IPD-WAS还可以更快地确定包括不稳定晶体在内的小分子的晶体结构。

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