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放射光X線トポグラフイの進展

机译:X射线辐射形貌研究进展

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摘要

X線トポグラフイとは,X線の回折現象を利用して単結晶中の格子欠陥の空間分布や格子ひずみを画像化する技術であり,回折イメージングと呼ばれることもある.最近では,放射光を利用して形成したマイクロビームを,二次元走査させた試料結晶に照射し,得られる回折X線の強度変化を検出してマッピングする方法もある.類似の情報が得られるが,本稿では,広いX線ビームを結晶に照射する伝統的なX線トポグラフイのみを扱う.
机译:X射线形貌学是一种利用X射线的衍射现象来对单晶中的晶格缺陷的空间分布和晶格应变进行成像的技术,并且有时被称为衍射成像。近来,还存在一种方法,该方法用已经通过使用发射的光形成的微束照射已经二维扫描的样品晶体,并且检测和绘制所获得的衍射X射线的强度变化。可获得类似的信息,但是本文仅涉及用宽X射线束照射晶体的传统X射线形貌。

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