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首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. コンピュ-タシステム. Computer Systems >統計的コンパレータを用いたアナログーディジタル変換回路の性能解析
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統計的コンパレータを用いたアナログーディジタル変換回路の性能解析

机译：使用统计比较器的模数转换电路性能分析

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統計的コンパレータのランダムなオフセット電圧ばらつきを解析し，統計的コンパレータを用いたアナログーディジタル変換回路（ADC）の性能評価モデルを提案した．まず，統計的コンパレータの分解能と他のパラメータの関係を確率密度関数で表現した．そして，統計的コンパレータの歩留まりを計算するために各デザインパラメータと性能の関係を導いた．このときに，複雑な厳密計算を避け，出力コードの各アナログステップ間の相関を無視する近似を用いることで解析的なモデル構築を行った．そして，モンテカルロシミュレーションにより，計算結果の妥当性を確認した．歩留まりが0.8以上という現実的な値ではこのパフォーマンスモデルは統計的ADCの正確な歩留まりを計算できることを示した．この結果を用いて，キャリブレーションを行うADCとキャリブレーションを行わないADCの性能を定量的に比較し，キャリブレーションによりADCの分解能を約2ビット改善できることを示した．
机译：我们分析了统计比较器的随机偏移电压变化，并提出了使用统计比较器的模数转换电路（ADC）的性能评估模型。首先，通过概率密度函数表示统计比较器的分辨率与其他参数之间的关系。然后，为了计算统计比较器的产量，得出了每个设计参数与性能之间的关系。此时，通过避免复杂的精确计算并使用忽略输出代码每个模拟步骤之间的相关性的近似值来构建分析模型。然后，通过蒙特卡洛模拟验证了计算结果的有效性。当实际值为0.8或更高时，此性能模型表明可以计算出统计ADC的准确产量。利用该结果，我们定量比较了带校准的ADC和未经校准的ADC的性能，并表明通过校准，ADC的分辨率可以提高大约2位。

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