• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告. コンピュ-タシステム. Computer Systems >On identifying don't-care inputs of test patterns for logic circuits
【24h】

On identifying don't-care inputs of test patterns for logic circuits

机译：在识别逻辑电路测试图案的无关输入时

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Given a test set for stuck-at faults, some of primary input values may be changed to opposite logic values without losing fault coverage. One can regard such input values as don't care(X). In this paper, we propose a method for identifying X inputs of test vectors in a given test set. While there are many combinations of X inputs in the test set generally, the proposed method finds one including X inputs as many as possible, by using fault simulation and procedures similar to implication and justification of ATPG algorithms. Experimental results for ISCAS benchmark circuits show that approximately 66% of inputs of un-compacted test sets could be X. Even for compacted test sets, the method found that approximately 47% of inputs are X. Finally, we discuss how logic values are reassigned to the identified X inputs where several applications exist to make test vectors more desirable for solving problems of SoC testing.
机译：给定用于卡住故障的测试集，某些主要输入值可以更改为相反的逻辑值，而不会丢失故障范围。可以将这些输入值视为无关位（X）。在本文中，我们提出了一种在给定测试集中识别测试向量的X个输入的方法。虽然测试集中通常有X个输入的许多组合，但是所提出的方法通过使用故障模拟和类似于ATPG算法的含义和理由的过程，找到了尽可能多的X个输入。 ISCAS基准电路的实验结果表明，未压缩测试集的输入中大约有66％可能是X。即使对于压缩测试集，该方法也发现大约47％的输入是X。最后，我们讨论了如何重新分配逻辑值到已识别的X输入，其中存在多个应用程序，以使测试向量更理想用于解决SoC测试问题。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号