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Quantitative phase measurements using optical quadrature microscopy

机译：使用光学正交显微镜进行定量相位测量

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Imaging of phase or optical path length is becoming more important with the development of better imaging systems, computational algorithms, faster computers, and a greater interest in the imaging of transparent objects. Early phase imaging involved qualitative imaging of phase gradients. New computational algorithms can be used to extract some quantitative phase imaging from these techniques. In contrast, new hardware has enabled full-field quantitative phase imaging on a practical and cost-effective scale. We explore a quantitative comparison between two techniques for imaging phase. In the first technique, phase is recovered from a pair of differential interference contrast images, and in the second technique, phase is measured pixel-by-pixel interferometrically. It is shown, experimentally, that the overall results are similar, but each technique has its own advantages and disadvantages. (c) 2008 Optical Society of America.
机译：随着更好的成像系统，计算算法，更快的计算机的发展以及对透明物体成像的更大兴趣，相位或光程长度的成像变得越来越重要。早期成像涉及相梯度的定性成像。新的计算算法可用于从这些技术中提取一些定量相位成像。相比之下，新的硬件已实现了实用且具有成本效益的全场定量相位成像。我们探索两种成像技术之间的定量比较。在第一种技术中，从一对差分干涉对比图像中恢复相位，在第二种技术中，通过干涉法逐个像素地测量相位。实验表明，总体结果是相似的，但是每种技术都有其自身的优点和缺点。 （c）2008年美国眼镜学会。

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