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首页> 外文期刊>Optics Letters >Extending resolution of scanning optical microscopy beyond the Abbe limit through the assistance of InSb thin layers
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Extending resolution of scanning optical microscopy beyond the Abbe limit through the assistance of InSb thin layers

机译：通过InSb薄层的辅助，将扫描光学显微镜的分辨率扩展到阿贝极限以外

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The resolution of light imaging is required to extend beyond the Abbe limit to the subdiffraction, or even nanoscale. In this Letter, we propose to extend the resolution of scanning optical microscopy (SOM) beyond the Abbe limit as a kind of subdiffraction imaging technology through the assistance of InSb thin layers due to obvious nonlinear saturation absorption and reversible formation of an optical pinhole channel. The results show that the imaging resolution is greatly improved compared with the SOM itself. This work provides a way to improve the resolution of SOM without changing the SOM itself, but through the assistance of InSb thin layers. This is also a simple and practical way to extend the resolution of SOM beyond the Abbe limit. (C) 2016 Optical Society of America
机译：要求光成像的分辨率扩展到亚衍射极限以上，甚至扩展到纳米级。在这封信中，由于明显的非线性饱和吸收和光学针孔通道的可逆形成，我们建议通过InSb薄层的辅助，将扫描光学显微镜（SOM）的分辨率扩展为一种亚衍射成像技术，超越阿贝限制。结果表明，与SOM本身相比，成像分辨率大大提高。这项工作提供了一种在不更改SOM本身的情况下而是通过InSb薄层的帮助来提高SOM分辨率的方法。这也是将SOM分辨率扩展到阿贝限制之外的一种简单实用的方法。 （C）2016美国眼镜学会

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