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首页> 外文期刊>The Journal of Chemical Physics >Short-time power-law blinking statistics of single quantum dotsand a test of the diffusion-controlled electron transfer model
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Short-time power-law blinking statistics of single quantum dotsand a test of the diffusion-controlled electron transfer model

机译：单量子点的短时幂律闪烁统计和扩散控制的电子转移模型的测试

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In this work we analyzed the blinking statistics data of single CdSe/ZnS quantum dots at vey shorttimes to test some predictions of the diffusion-controlled electron transfer (DCET) model. Usingautocorrelation function (ACF) approach we could extract the exponent of the inverse power-lawblinking statistics down to 1 μs. Such an approach also minimizes human subjectivity in choosinga bin time and an on-off threshold. We showed that the observed stretched exponential decay in theACF and its relationship to the blinking statistics are consistent with the DCET model, and we setan upper bound for the characteristic time constant
机译：在这项工作中，我们分析了短距离的单个CdSe / ZnS量子点的闪烁统计数据，以测试对扩散控制的电子转移（DCET）模型的一些预测。使用自相关函数（ACF）方法，我们可以提取低至1μs的逆幂律闪烁统计的指数。这样的方法还使人在选择箱柜时间和开关阈值时的主观性最小化。我们证明了在ACF中观察到的拉伸指数衰减及其与闪烁统计之间的关系与DCET模型一致，并且为特征时间常数设置了上限

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