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【24h】

Axial EBIC oscillations at core/shell GaAs/Fe nanowire contacts

机译：芯/壳GAAS / FE纳米线触点轴向EBIC振荡

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Electron beam induced current (EBIC) measurements were carried out in situ in the scanning electron microscope on free-standing GaAs/Fe core-shell nanowires (NWs), isolated from the GaAs substrate via a layer of aluminum oxide. The excess current as a function of the electron beam energy, position on the NW, and scan direction were collected, together with energy dispersive x-ray spectroscopy. A model that included the effects of beam energy and Fe thickness predicted an average collection efficiency of 60%. Small spatial oscillations in the EBIC current were observed, that correlated with the average Fe grain size (30 nm). These oscillations likely originated from lateral variations in the interfacial oxide thickness, affecting the resistance, barrier potentials, and density of minority carrier recombination traps.
机译：电子束感应电流（EBIC）测量在扫描电子显微镜上原位进行，在独立的GaAs / Fe核 - 壳纳米线（NWS）上，通过一层氧化铝从GaAs衬底隔离。 收集电流作为电子束能量，在NW上的位置和扫描方向上的过电流，以及能量分散X射线光谱。 包括光束能量和Fe厚度的效果的模型预测了60％的平均收集效率。 观察到EBIC电流中的小空间振荡，与平均Fe粒度（30nm）相关。 这些振荡可能源于界面氧化物厚度的横向变化，影响少数载体重组陷阱的电阻，阻挡电位和密度。

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