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Blisters on graphite surface: a scanning microwave microscopy investigation

机译：石墨表面上的水泡：扫描微波显微镜调查

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Scanning microwave microscopy (SMM) is based on the interaction between a sample and an electromagnetic evanescent field, in the microwave frequency range. SMM is usually coupled with a scanning probe microscopy (SPM) technique such as in our case, a scanning tunneling microscope (STM). In this way, the STM tip is used to control the distance between the probe and the sample while acting as an antenna for the microwave field. Thanks to the peculiarity of our home-made setup, the SMM is a suitable method to study blisters formed on HOPG surface as consequence of an electrochemical treatment. Our system has a "broad-band" approach that opens the way to perform local microwave spectroscopy over a broad frequency range. Moreover, microwaves have the ability to penetrate into the sample allowing the sub-surface characterization of materials. The application of the SMM to characterize blisters formed on the HOPG surface provides information on the sub-layer structures.
机译：扫描微波显微镜（SMM）基于样品和电磁渐逝场之间的相互作用，在微波频率范围内。 SMM通常与扫描探针显微镜（SPM）技术相偶联，例如我们的壳体，扫描隧道显微镜（STM）。 以这种方式，STM尖端用于控制探针和样品之间的距离，同时充当微波场的天线。 由于我们自制设置的特殊性，SMM是一种合适的方法，以便在电化学处理后研究跳跃表面上形成的水泡。 我们的系统具有“宽带”方法，开启了在宽频范围内执行局部微波光谱的方式。 此外，微波具有渗透到样品中的能力，允许物质的子表面表征。 SMM的应用于在跳跃表面上形成的水疱提供有关子层结构的信息。

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