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Single-shot quantitative birefringence microscopy for imaging birefringence parameters

机译：用于成像双折射参数的单次定量双折射显微镜

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A method for realizing 2D single-shot measurements of birefringence parameters (including both retardation and optic axis orientation) of anisotropic materials using a simple recording setup and an efficient processing algorithm is proposed. The recording setup can be built simply by inserting a circular polarizer and a polarization beam splitter, respectively, in the object path and reference path of a conventional off-axis holographic imaging system, with no need for other adjustments. An algorithm for quantitatively retrieving the birefringence parameters from one single-shot hologram is proposed and demonstrated, in which a new quantity describing the birefringence, called complex birefringence parameter, is introduced, and a set of formulas used to extract the birefringence parameters is derived. Some experimental results are given for demonstrating the feasibility of the method that reveal that the method may provide another effective approach for investigating the birefringence properties of dynamic anisotropic materials, especially the birefringence induced by ultrafast pulse lasers. (C) 2019 Optical Society of America
机译：提出了一种使用简单记录设置和有效处理算法实现各向异性材料的双折射参数（包括两个延迟和光轴取向）的2D单射线测量方法。可以简单地通过分别插入圆偏振器和偏振分束器，在传统的离轴全息成像系统的对象路径和参考路径中，可以简单地构建录制设置，无需其他调整。提出和说明了一种用于从一个单射全息图定量检索双折射参数的算法，其中引入了描述双折射，称为复杂双折射参数的新量，并且导出用于提取双折射参数的一组式。给出了一些实验结果，用于证明该方法的可行性揭示该方法可以提供用于研究动态各向异性材料的双折射性能的另一种有效方法，特别是超快脉冲激光器引起的双折射。 （c）2019年光学学会

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