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【24h】

Atomic force microscopy field still offers huge potential

机译:原子力显微镜领域仍具有巨大潜力

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摘要

Within a decade of their development,the various techniques that fall under the umbrella of scanning probe microscopy (SPM),particularly atomic force microscopy (AFM),had become part of the routine armoury of tools available to scientists involved in metrology and surface characterisation.In those ten years,annual sales rose to over 100 million.
机译:在其发展的十年内,扫描探针显微镜(SPM),尤其是原子力显微镜(AFM)所涵盖的各种技术已成为涉及计量和表面表征的科学家可用的常规工具的一部分。在那十年中,年销售额上升到超过1亿。

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