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NONDESTRUCTIVE CHARACTERIZATION OF NANOSTRUCTURE IN LAYERED MATERIALS USING SYNCHROTRON RADIATION

机译:同步辐射法对层状材料中纳米结构的非破坏性表征

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摘要

This paper presents a brief review of nondestructive methods useful for the general purpose of characterizing nanostructure in layered materials using x-rays from synchrotron radiation. By way of examples, some practical applications of these methods to the study of layered systems of recent technological interest are demonstrated.
机译:本文简要介绍了无损方法,这些方法可用于使用同步加速器辐射的X射线表征层状材料中纳米结构的一般目的。通过示例的方式,展示了这些方法在研究具有最新技术意义的分层系统中的一些实际应用。

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