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Phase-shifting interferometry: minimization of systematic errors

机译:相移干涉测量:最小化系统误差

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摘要

Phase-shifting interferometry is now used widely to map the deviations of optical surfaces from a reference plane or reference sphere. However, the accuracy of such measurements is limited by systematic errors due to several causes. These systematic errors can be minimized by a simple averaging technique.
机译:相移干涉测量现在被广泛用于绘制光学表面与参考平面或参考球的偏差。然而,由于多种原因,这种测量的准确性受到系统误差的限制。这些系统误差可以通过简单的平均技术最小化。

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