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Quantitative analysis of the elemental composition and electron concentration in AlGaN/GaN heterostructures with a two-dimensional electron channel by means of SIMS and C-V profiling

机译:借助SIMS和C-V分布图定量分析具有二维电子通道的AlGaN / GaN异质结构中的元素组成和电子浓度

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摘要

The elementary composition and electron concentration in series of delta doped heterostructures Al _X Ga _(1 - X) N/GaN with a two-dimensional electron channel are investigated. Separation of the electron channel and the doping Si admixture is shown by a combination of SIMS and C-V profiling.
机译:研究了具有二维电子通道的一系列δ掺杂异质结构Al _X Ga _(1- X)N / GaN的元素组成和电子浓度。 SIMS和C-V分析的结合显示了电子通道和Si掺杂混合物的分离。

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