...
【24h】

Interferometry with two-dimensional spatial and high temporal resolution

机译:具有二维空间和高时间分辨率的干涉仪

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

We present a new interferometric technique to measure the time derivative of the index of refraction in a single shot, with two-dimensional resolution. The method is demonstrated by measuring an electron plasma of 10~(16) e~(-)/cm~(3) created by photoionization with a 248 nm ultrashort pulse. Temporal resolution of 200 fs can be achieved while probing delays up to 20 ns. The sensitivity and the limitations of this technique are discussed.
机译:我们提出了一种新的干涉测量技术,以二维分辨率测量单发中折射率的时间导数。该方法通过用248 nm超短脉冲测量通过电离产生的10〜(16)e〜(-)/ cm〜(3)的电子等离子体来证明。探测延迟高达20 ns时,可以实现200 fs的时间分辨率。讨论了该技术的敏感性和局限性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号