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Identification of a bilayer grain boundary complexion in Bi-doped Cu

机译：双掺杂铜中双层晶界肤色的鉴定

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Using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy, we have directly observed a bilayer grain boundary complexion in Bi-doped Cu, akin to that observed in Ni-Bi [Science, 333: 1730 (2011)]. In comparison with the Ni-Bi bilayer, the Cu-Bi bilayer appears to exist in a much narrower chemical potential window attributable to the fact that Cu-Bi and Ni-Bi have different pair-interaction potentials. Furthermore, these bilayers often form in conjunction with nanoscale faceting. This study demonstrates that direct imaging of the atom columns provides a more accurate understanding of the structure, chemistry and distribution of the adsorbates in a grain boundary and their role in embrittlement.
机译：使用像差校正的扫描透射电子显微镜，我们直接观察到了Bi掺杂的Cu中的双层晶界配色，类似于Ni-Bi [Science，333：1730（2011）]。与Ni-Bi双层相比，Cu-Bi双层似乎以更窄的化学势窗口存在，这归因于Cu-Bi和Ni-Bi具有不同的成对相互作用势。此外，这些双层通常与纳米面一起形成。这项研究表明，原子柱的直接成像可更准确地了解晶界中被吸附物的结构，化学性质和分布及其在脆化中的作用。

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