机译:电子能量损失谱法测定P(VDF-TrFE)共聚物薄膜的带隙
机译:电子能量损失谱法测定P(VDF-TrFE)共聚物薄膜的带隙
机译:电子能量损失谱法测定P(VDFa·TrFE)共聚物薄膜的带隙
机译:样品加工和高能电子照射条件对P(VDF-TRFE)共聚物膜的结构和过渡性能的影响
机译:通过同时使用原位反射高能电子衍射(RHEED)和反射电子能量损失谱(REELS)来表征MBE生长的金属,半导体和超导体薄膜和界面
机译:高分辨率电子显微镜电子能损光谱X射线粉衍射和电子对分布函数的非晶二氧化硅纳米结构的微观结构研究
机译:用电子能损光谱法和透明导电氧化物在Cuinxga(I-X)SE2中的子带隙能量状态的表征
机译:在300 K和100 K下的TlBaCaCuO(sub X)薄膜的aEs(俄歇电子能谱)和EELs(电子能量损失光谱)分析