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干涉分光光度计以及双光束干涉仪

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摘要

提供干涉分光光度计以及双光束干涉仪，消除由于周期性的噪声而在谱中出现的伪峰。具备：双光束干涉仪，根据多波长光生成干涉光，包括将多波长光分为两束的分束器、固定镜、移动镜以及移动镜驱动部；检测部，每当分为两束的光的光路长度差变化固定值时检测干涉光的强度并输出强度信号；速度变更部，每当移动镜进行一次至多次往复移动或单程移动时，使移动镜的移动速度变更规定值；信号保存部，以与移动镜的一次至多次往复移动或单程移动对应地进行的检测部的一系列的检测动作为一次的检测动作，将在多次的检测动作中得到的干涉光的强度信号分别与光路长度差相关联地保存；信息提取部，从信号保存部中保存的干涉光的强度信号提取速度取决信息。

著录项

公开/公告号CN110243474A

专利类型发明专利
公开/公告日2019-09-17

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社岛津制作所;
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申请/专利号CN201910172888.X
发明设计人横田佳澄;
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申请日2019-03-07
分类号G01J3/453(20060101);G01N21/31(20060101);G01N21/47(20060101);G01N21/59(20060101);
代理机构11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘新宇
地址日本京都府
入库时间 2024-02-19 13:31:28

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-10-15

实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/453 申请日:20190307

实质审查的生效
2019-09-17

公开

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1. 干涉分光光度计以及双光束干涉仪 [P] . 中国专利： CN110243474A . 2019-09-17
2. 双光束干涉仪 [P] . 中国专利： CN1062037A . 1992-06-17
3. Method of adjusting fixed mirror of double-beam interferometer and interferometric spectrophotometer [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1376050A3 . 2005-12-14

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5. Method of adjusting fixed mirror of double-beam interferometer and interferometric spectrophotometer [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1376050A2 . 2004-01-02

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