首页> 中国专利> 利用基质辅助激光解吸/离子化飞行时间质谱仪进行时间对强度分布分析

利用基质辅助激光解吸/离子化飞行时间质谱仪进行时间对强度分布分析

摘要

公开了一种设备、方法或计算机程序。可以接收样本的光谱仪测试数据以进行处理。该光谱仪测试数据可以包括以穿过飞行管的离子化粒子的时间和强度为单位的飞行时间数据。可将光谱仪测试数据与参考库匹配,以确定样本的特征信息。参考库可包含以光谱仪检测过去检测到的预存参考样本的离子化粒子的时间和强度为单位的光谱仪样本数据。光谱仪参考数据具有匹配与接收到的光谱仪测试数据关联的已知特征。

著录项

  • 公开/公告号CN110167659A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高地创新公司;

    申请/专利号CN201780062773.4

  • 发明设计人 赵英俊;赵邀韩;

    申请日2017-08-21

  • 分类号

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王璇

  • 地址 美国新泽西州

  • 入库时间 2024-02-19 14:30:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):B01D59/44 申请日:20170821

    实质审查的生效

  • 2019-08-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号