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区分原生表面特征与外来表面特征的方法

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本申请公开了区分原生表面特征与外来表面特征的方法。本文提供了一种装置，包括：光子探测器阵列；以及处理设备，配置成处理与从物品的表面散射并且聚焦在第一焦平面的第一组光子以及从物品的表面散射并且聚焦在第二焦平面的第二组光子相对应的光子探测器阵列信号，其中所述处理设备进一步包括区分物品的原生表面特征与物品的外来表面特征。

著录项

公开/公告号CN103728314A

专利类型发明专利
公开/公告日2014-04-16

原文格式PDF
申请/专利权人希捷科技有限公司;
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申请/专利号CN201310756797.3
发明设计人 J·W·艾和;D·M·唐;S·K·H·王;H·L·洛特;S·K·麦克劳林;M·纳西柔;F·扎瓦利彻;
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申请日2013-10-16
分类号G01N21/88(20060101);
代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;
代理人何焜
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2024-02-19 23:10:49

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-10-08

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/88 授权公告日:20170104 终止日期:20181016 申请日:20131016

专利权的终止
2017-01-04

授权

授权
2014-05-14

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/88 申请日:20131016

实质审查的生效
2014-04-16

公开

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1. 区分原生表面特征与外来表面特征的方法 [P] . 中国专利： CN103728314B . 2017.01.04
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