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新型阵列涡旋光束对微观粒子分级筛选的方法及系统

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本发明提出了新型阵列涡旋光束对微观粒子分级筛选的方法及系统，系统将激光器产生的激光束经匀光板得到一束均匀的等强度光束，再通过透镜组将均匀光束准直扩束，扩束后的均匀光束垂直入射光孔阵列板上，得到等强度均匀光阵列，通过光孔出射后的等强度的均匀光阵列入射到由螺旋相位板排布成M行L列的阵列板上，通过差异化设置每列的SPP的高度，得到在不同列位置上具有不同拓扑荷值的出射涡旋光阵列，最后通过透镜阵列，聚焦在远场，得到聚焦涡旋光束阵列的夫琅禾费衍射场，把微流体室放在聚焦涡旋光束阵列的夫琅禾费衍射场范围内。由于在各列位置的涡旋光束具有不同的拓扑荷，因此可根据涡旋光束光场力的差异，对微流体室中微观粒子进行分级筛选。

著录项

公开/公告号CN111028974A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-04-17

原文格式PDF
申请/专利权人上海理工大学;北京邮电大学;南京信息工程大学;
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申请/专利号CN201911254181.X
发明设计人张大伟;石冰果;王凯民;刘博;戴博;张雷洪;张琦;徐美勇;忻向军;
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申请日2019-12-06
分类号
代理机构上海邦德专利代理事务所(普通合伙);
代理人余昌昊
地址 200093 上海市杨浦区军工路516号
入库时间 2023-12-17 09:08:21

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-12

实质审查的生效 IPC(主分类):G21K1/00 申请日:20191206

实质审查的生效
2020-04-17

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