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用于集成电路的电磁故障注入探测方法及相应的集成电路

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摘要

本发明公开了一种用于集成电路的电磁故障注入探测方法及相应的集成电路，方法包括：将至少一个用于感知电压下降干扰的第一正反器和至少一个用于感知电压上升干扰的第二正反器置于所述集成电路内；基于所述第一正反器的输出和所述第二正反器的输出，判断出电磁故障注入探测结果。本发明利用多个正反器(flip‑flop)及故障发生逻辑来探测电磁故障注入，具有简单易实现的优点，可容易整合于芯片内，芯片可依据故障发生逻辑的探测结果来进行故障发生后的必要处理，实现对芯片的保护。

著录项

  • 公开/公告号CN111239582A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 御芯微电子(厦门)有限公司;

    申请/专利号CN201811443281.2

  • 发明设计人 张英辉;张行健;

    申请日2018-11-29

  • 分类号

  • 代理机构厦门市首创君合专利事务所有限公司;

  • 代理人连耀忠

  • 地址 361000 福建省厦门市湖里区岐山北路506号H栋

  • 入库时间 2023-12-17 09:38:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-05

    公开

    公开

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