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测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置

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本发明揭示了测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置，其中测试探针包括探针主体，所述探针主体的测试端斜切形成有一斜切平面，所述斜切平面的面积大于其测试端未切割前的端面的面积。本方案结构简单，测试探针无需弹簧等结构，尺寸大大减小，能够满足小管脚步距的使用要求，通过将探针主体上形成面积大于其端面面积的斜切平面，相对于现有技术，能够有效地增加接触面积，拓宽测试探针与管脚之间的位置公差范围，同时，有利于降低测试设备的整体加工和组装难度，可以在常规加工和组装精度条件下，降低开路情况的产生，提高测试的可靠性和稳定性。

著录项

公开/公告号CN111398791A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-07-10

原文格式PDF
申请/专利权人苏州创瑞机电科技有限公司;
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申请/专利号CN202010357192.7
发明设计人朱小刚;
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申请日2020-04-29
分类号
代理机构南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人陆明耀
地址 215000 江苏省苏州市工业园区苏虹东路17号2#厂房
入库时间 2023-12-17 10:20:40

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-08-04

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20200429

实质审查的生效
2020-07-10

公开

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