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通过在半导体微芯片上进行电斑点印迹检测法分辩单核苷酸多态性

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本发明公开了一种利用硅微芯片上的电路快速检测单核苷酸多态性的方法。该方法能在将DNA电协助转运、浓缩和结合到所选电极(测试位点)后,准确地辨别扩增好的DNA样品。所述测试位点构成规则的样品阵列,后者可利用包含野生型序列和错配序列这两种标记报告分子的内部控制来加以分辨。利用该方法分辨了甘露糖结合蛋白的复杂四等位基因SNP。

著录项

公开/公告号CN1313906A

专利类型发明专利
公开/公告日2001-09-19

原文格式PDF
申请/专利权人内诺金有限公司;
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申请/专利号CN00800968.6
发明设计人帕特里克·N·吉勒斯;帕特里克·J·狄龙;戴维·J·吴;查尔斯·B·福斯特;斯蒂芬·J·差诺克;
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申请日2000-03-28
分类号C12Q1/68;C07H21/04;
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人胡交宇
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 14:06:51

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2008-05-28

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2005-03-09

授权

授权
2002-05-08

实质审查的生效

实质审查的生效
2001-09-19

公开

公开

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1. 通过在半导体微芯片上进行电斑点印迹检测法分辩单核苷酸多态性 [P] . 中国专利： CN1192116C . 2005.03.09
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