首页> 中国专利> 利用光学干涉图样的自动检验系统和方法

利用光学干涉图样的自动检验系统和方法

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

一种自动检验系统，用于鉴别具有光学防伪特征的物体，包括光学系统、传送台设备和分析设备。光学系统包括一个或多个光源，能够产生窄带或宽带光束。传送台设备与光源配合操作，被构成为将物体定位而使得一个或多个光束照射在物体应当设有防伪特征的部分。分析设备接收从物体反射或透射的光束，并用于分析在不同角度和/或波长的光束的光学特征，以检验物体的真实性。

著录项

公开/公告号CN1728184A

专利类型发明专利
公开/公告日2006-02-01

原文格式PDF
申请/专利权人 JDS单相公司;
展开▼

申请/专利号CN200510073961.6
发明设计人保罗·G·库姆斯;唐纳德·M·弗里德里克;肯·D·卡德尔;柯蒂斯·R·鲁斯卡;查尔斯·T·马尔坎特斯;
展开▼

申请日2000-10-10
分类号G07D7/12;G07D7/00;
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;
代理人田军锋
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 16:55:11

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2014-02-12

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G07D7/12 申请公布日:20060201 申请日:20001010

发明专利申请公布后的驳回
2006-03-29

实质审查的生效

实质审查的生效
2006-02-01

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 利用光学干涉图样的自动检验系统和方法 [P] . 中国专利： CN1728184A . 2006-02-01
2. 利用光学干涉图样的自动检验系统和方法 [P] . 中国专利： CN1423800A . 2003-06-11
3. Exposure apparatus and device manufacturing method using a common path interferometer to form an interference pattern and a processor to calculate optical characteristics of projection optics using the interference pattern [P] . 美国专利： US7675629B2 . 2010-03-09

机译：使用公共路径干涉仪形成干涉图样的曝光设备和装置制造方法以及使用干涉图样来计算投影光学器件的光学特性的处理器
4. Contactless temperature monitoring method using evaluation of interference pattern obtained by reflection of partial beams from different depths within sample [P] . 德国专利： DE10301416B3 . 2004-07-15

机译：非接触式温度监测方法，利用干涉图样的评估，该干涉图样是通过反射样品中不同深度的部分光束而获得
5. Optical interference pattern color display and optical interference pattern modulator [P] . 日本专利： JP3996545B2 . 2007-10-24

机译：光学干涉图样彩色显示和光学干涉图样调制器