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接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统

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摘要

一种接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统，包括测量传感器和计算机，其特征在于所述计算机通过测量及数据采集电路连接设置有两组测量传感器，该两组测量传感器分别为非接触式测量头和接触式测量头。该接触和非接触式两用表面粗糙度测量系统能够通过一台测量仪器实现接触和非接触式两种工程表而粗糙度测量方式，集中了二者的优点，扩大了测量对象的范围，造价低廉，能够提供精确和合理的测量数据，还可对两种测量结果进行实时对比和偏差校正，可适用于各种复杂的待测工件表面的工程粗糙度的二维或三维痕迹测量。

著录项

  • 公开/公告号CN101140163A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京恒安通达科技有限公司;

    申请/专利号CN200710165438.5

  • 发明设计人 孙正贵;李斌;

    申请日2007-10-29

  • 分类号G01B21/30(20060101);G01B21/20(20060101);G01B11/30(20060101);G01B11/24(20060101);G01B7/34(20060101);G01B7/28(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村大街5号683号楼理工科技大厦905室

  • 入库时间 2023-12-17 19:54:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-07-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B21/30 公开日:20080312 申请日:20071029

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-03-12

    公开

    公开

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