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在一液晶显示器(LCD)制造过程中用于监视、预测和最佳化生产产生率的系统和方法

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摘要

本发明揭示一种用于监视LCD生产产生率、预测不同测试方法对LCD生产产生率的影响、最佳化生产产生率、及检测TFT阵列面板中的缺陷的系统与方法，所述系统与方法在LCD测试与装配过程中，可以比较不同测试方法对不同阶段产生率的影响。本发明也可以用来预测不同测试方法对用户定义参数(如利润)的影响。本发明也可以提高的缺陷检测精确度来检测TFT阵列面板中的缺陷。

著录项

公开/公告号CN101410749A

专利类型发明专利
公开/公告日2009-04-15

原文格式PDF
申请/专利权人伊尔德博斯特技术公司;
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申请/专利号CN200480003190.7
发明设计人钟相勇;
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申请日2004-01-26
分类号G02F1/1362;G02F1/13;
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;
代理人王允方
地址美国加利福尼亚州
入库时间 2023-12-17 21:49:12

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2011-04-13

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02F1/1362 公开日:20090415 申请日:20040126

发明专利申请公布后的视为撤回
2009-06-10

实质审查的生效

实质审查的生效
2009-04-15

公开

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专利
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外文文献

1. 在一液晶显示器(LCD)制造过程中用于监视、预测和最佳化生产产生率的系统和方法 [P] . 中国专利： CN101410749A . 2009-04-15
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4. System and method of monitoring, predicting and optimizing production yields in a liquid crystal display (LCD) manufacturing process [P] . 美国专利： US7064572B2 . 2006-06-20

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5. System and method of monitoring, predicting and optimizing production yields in a liquid crystal display (LCD) manufacturing process [P] . 美国专利： US6888368B2 . 2005-05-03

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