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SiC半导体用欧姆电极、SiC半导体用欧姆电极的制造方法、半导体装置以及半导体装置的制造方法

摘要

本发明公开了包含Si和Ni的用于SiC半导体的欧姆电极(2),或者包含Si和Ni并且另外包含Au或Pt的用于SiC半导体的欧姆电极(2);所述欧姆电极(2)的制造方法;利用所述欧姆电极(2)的半导体装置;以及所述半导体装置的制造方法。

著录项

  • 公开/公告号CN101536152A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友电气工业株式会社;

    申请/专利号CN200780040752.9

  • 发明设计人 藤川一洋;玉祖秀人;

    申请日2007-08-13

  • 分类号H01L21/28;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人陈海涛

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-17 22:36:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-01

    授权

    授权

  • 2009-11-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-16

    公开

    公开

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