法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-03-18
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/336 申请公布日:20120704 申请日:20120109
发明专利申请公布后的视为撤回
2012-11-21
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/336 申请日:20120109
实质审查的生效
2012-07-04
公开
公开
机译: (110)表面取向,用于减少高K电介质和III-V族化合物半导体衬底之间的费米能级钉扎
机译: PMOS和NMOS晶体管的形成方法,涉及在蚀刻的部分中实现硅锗层的外延,其中衬底的蚀刻深度和层的厚度使得可以调节晶体管的栅极的表面水平。
机译: 金属锗金属光电探测器中的肖特基势垒金属锗接触