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玻璃基板内部缺陷检查系统及所处高度位置的检查方法

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摘要

玻璃基板内部缺陷检查系统，解决现有技术中检验玻璃基板的内部缺陷所处玻璃基板高度位置效率低、成本高的技术问题，采用的技术方案是：包括处在传送装置上的玻璃基板，还包括对称设置在玻璃基板上下两侧的光源发射装置、与光源发射装置配套的采集成像装置及与采集成像装置相连接的装有控制管理程序的工控机。本发明还提供了一种玻璃基板内部缺陷所处高度位置的检查方法，采用本发明不仅提高了玻璃基板检查的自动化程度，同时进一步降低了成本、提高了产能。

著录项

  • 公开/公告号CN104655646A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东旭集团有限公司;

    申请/专利号CN201410167268.4

  • 发明设计人 王建鑫;李杰;周波;王丽红;

    申请日2014-04-24

  • 分类号G01N21/89(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人王苑祥

  • 地址 050000 河北省石家庄市高新区珠江大道369号

  • 入库时间 2023-12-18 08:49:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/89 申请公布日:20150527 申请日:20140424

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-06-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/89 申请日:20140424

    实质审查的生效

  • 2015-05-27

    公开

    公开

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