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低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法

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本发明公开了一种低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)重构采样信号：假设采样后形成的采样信号是fs(t)，fs(t)经过内插处理后被恢复成原来的连续信号f(t)，重构公式：(2)高频采样：对重构出来的连续信号f(t)进行高频采样，采样的频率为：信号频率10倍以上的频率，得到高频采样信号fs1(t)；(3)计算驻波比：针对高频采样信号fs1(t)按照能量法计算驻波比。本发明的有益之处在于：在低采样率下和欠采样率下，通过对采样信号进行重构，重新获得了连续的信号，由于是针对重构后的连续信号计算驻波比，所以计算结果更加精确，克服了现有方法测量驻波比误差较大以及误差波动较大的缺点。

著录项

公开/公告号CN104849561A

专利类型发明专利
公开/公告日2015-08-19

原文格式PDF
申请/专利权人西安电子科技大学;
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申请/专利号CN201510176237.X
发明设计人陈光达;李维超;王昆;刘雪梅;孟娟;
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申请日2015-04-14
分类号G01R27/06(20060101);
代理机构北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙);
代理人郭官厚
地址 710071 陕西省西安市太白南路二号
入库时间 2023-12-18 10:31:17

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-09-07

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R27/06 申请公布日:20150819 申请日:20150414

发明专利申请公布后的驳回
2015-09-16

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/06 申请日:20150414

实质审查的生效
2015-08-19

公开

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1. 低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法 [P] . 中国专利： CN104849561A . 2015-08-19
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