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一种基于集成三电极体系微芯片的电化学与电化学发光检测方法

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本发明涉及一种基于集成三电极体系微芯片的电化学与电化学发光的检测方法。步骤如下：(1)制作集成三电极的聚甲基丙烯酸基片；(2)制作聚二甲基硅氧烷盖片；(3)微芯片‑电化学工作站检测装置。本发明首次将不同材料的微电极集成到了单片PMMA基片上，提高了测试装置的集成度，不需外接电极，便携性好、检测响应速度快，检测精度高，可达1×10

著录项

公开/公告号CN105891192A

专利类型发明专利
公开/公告日2016-08-24

原文格式PDF
申请/专利权人大连理工大学;
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申请/专利号CN201610485926.3
发明设计人徐莘博;刘军山;张文珠;杨正馨;窦文堃;满运程;廖穗杨;何昊阳;
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申请日2016-06-24
分类号
代理机构大连理工大学专利中心;
代理人温福雪
地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
入库时间 2023-06-19 00:24:50

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-12-04

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/76 申请公布日:20160824 申请日:20160624

发明专利申请公布后的视为撤回
2016-09-21

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/76 申请日:20160624

实质审查的生效
2016-08-24

公开

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