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一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法

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一种基于张量主成分分析降维的高光谱图像目标检测方法，本发明涉及高光谱图像目标检测方法。本发明的目的是为了解决现有高光谱图像目标检测方法中未充分考虑在高分条件下空间约束增强的特性，不能从三维数据整体进行信息挖掘，检测精度低的问题。过程为：一：获得三阶目标、三阶背景和待检测的三阶测试样本张量块；二：获得目标、背景和待检测的测试样本三个维度上的投影矩阵；三：将目标、背景和待检测的测试样本投影到预设的张量子空间中；四：计算每一个待检测的测试样本到背景和目标模板的总距离；五：将距离的比值作为灰度值，如果灰度值大于阈值，则确定该中心点的像元为目标，否则认为该中心点的像元为背景。本发明用于图像处理领域。

著录项

公开/公告号CN107239768A

专利类型发明专利
公开/公告日2017-10-10

原文格式PDF
申请/专利权人哈尔滨工业大学;
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申请/专利号CN201710433705.6
发明设计人谷延锋;谭苏灵;
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申请日2017-06-09
分类号G06K9/00(20060101);G06K9/62(20060101);
代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;
代理人杨立超
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
入库时间 2023-06-19 03:28:47

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2017-11-07

实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/00 申请日:20170609

实质审查的生效
2017-10-10

公开

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