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用于确定宏拓扑、毫拓扑、微拓扑和纳米拓扑中的至少一个的评估系统和方法

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摘要

本发明的目的是提供一种评估方法，在该方法中，确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑，获得关于至少两个介质的所述至少一个分界面的拓扑的信息。在该方法中，通过执行分割来处理所获得的关于至少两个介质的所述至少一个分界面的拓扑的信息，其中，从所获得的信息的背景信息分割所获得的信息的体积信息，生成基准表面信息，获得关于空隙的信息，分析所述关于空隙的信息，以提供多值化表面形状信息，并且基于所述多值化表面形状信息来执行所述关于空隙的信息的定量映射，用于确定至少两个介质的至少一个分界面的宏拓扑、毫拓扑、微拓扑以及纳米拓扑中的至少一个拓扑。

著录项

公开/公告号CN108292432A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-07-17

原文格式PDF
申请/专利权人奥卢大学;
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申请/专利号CN201680066205.7
发明设计人 H·涅米宁;T·伊利塔洛;S·萨拉卡拉;E·哈格斯特罗姆;
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申请日2016-11-11
分类号
代理机构北京三友知识产权代理有限公司;
代理人黄纶伟
地址芬兰奥卢
入库时间 2023-06-19 05:57:58

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-10-19

实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20161111

实质审查的生效
2018-07-17

公开

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1. 用于确定宏拓扑、毫拓扑、微拓扑和纳米拓扑中的至少一个的评估系统和方法 [P] . 中国专利： CN108292432A . 2018-07-17
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