首页> 中国专利> 从边缘上X射线检测器获取测量信息并相对于进入的X射线方向确定边缘上X射线检测器的方位

从边缘上X射线检测器获取测量信息并相对于进入的X射线方向确定边缘上X射线检测器的方位

页面导航

摘要
著录项
法律信息
相似文献

摘要

本发明提供了一种用于相对于X射线的方向从X射线源至少部分地确定边缘上X射线检测器的方位的方法。所述方法包括：获得(S1)来自通过X射线检测器执行的测量的信息，所述信息表示在与所述X射线检测器和所述X射线源相关的体模的两个不同相对位置的最小值处的X射线的强度，所述体模被定位于所述X射线源和所述X射线检测器之间，并且被设计成当暴露于X射线时将定向信息嵌入所述X射线场中。所述方法还包括：相对于X射线的方向并基于从测量所获得的信息和X射线检测器的空间构造、X射线源和体模的几何模型，确定(S2)与X射线检测器的方位相关联的至少一个参数。

著录项

公开/公告号CN108449977A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-08-24

原文格式PDF
申请/专利权人棱镜传感器公司;
展开▼

申请/专利号CN201580082643.8
发明设计人马丁·斯约林;弗雷德里克·格洛伯格;
展开▼

申请日2015-09-23
分类号
代理机构广州三环专利商标代理有限公司;
代理人刘宇峰
地址瑞典斯德哥尔摩
入库时间 2023-06-19 06:17:24

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-09-18

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20150923

实质审查的生效
2018-08-24

公开

公开

相似文献

专利
中文文献
外文文献

1. 从边缘上X射线检测器获取测量信息并相对于进入的X射线方向确定边缘上X射线检测器的方位 [P] . 中国专利： CN108449977B . 2021.06.25
2. 从边缘上X射线检测器获取测量信息并相对于进入的X射线方向确定边缘上X射线检测器的方位 [P] . 中国专利： CN108449977A . 2018-08-24
3. OBTAINING MEASUREMENT INFORMATION FROM AN EDGE-ON X-RAY DETECTOR AND DETERMINING THE ORIENTATION OF AN EDGE-ON X-RAY DETECTOR WITH RESPECT TO THE DIRECTION OF INCOMING X-RAYS [P] . 美国专利： US2017269234A1 . 2017-09-21

机译：从边缘X射线检测器获取测量信息，并确定边缘X射线检测器相对于入射X射线的方向
4. Obtaining measurement information from an edge-on X-ray detector and determining the orientation of an edge-on X-ray detector with respect to the direction of incoming X-rays [P] . 美国专利： US9903958B2 . 2018-02-27

机译：从边缘X射线探测器获取测量信息并确定边缘X射线探测器相对于入射X射线方向的方向
5. Butting-structure adjusting method, involves individually measuring butting-structure at x-ray flat detector, and determining individual pixel number parameter for interpolation for x-ray flat detector [P] . 德国专利： DE102005029459B3 . 2006-10-19

机译：对接结构调整方法，涉及在X射线平面检测器上单独测量对接结构，并确定用于X射线平面检测器的插值的单个像素数参数