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一种结构光三维扫描可达性分析方法及分析系统

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本发明涉及一种结构光三维扫描可达性分析方法，包括：根据结构光三维扫描设备的几何测量模型，构建扫描工作空间。对待测工件参考模型的曲面进行离散，得到待测工件参考模型的位于曲面上的采样点。基于待测工件参考模型，构建每个采样点的扫描可视锥空间。根据扫描工作空间、扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件，判断每个采样点在结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性。将扫描可达的采样点和扫描不可达的采样点分别以不同的颜色在曲面上显示。本发明通过对扫描设备的几何参数和待测工件参考模型分析，结合结构光扫描可达性条件对被测物体进行扫描可达性评判，可达性分析结果可为扫描操作提供参考，以便于操作人员调整、优化扫描策略。

著录项

公开/公告号CN108955520A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-12-07

原文格式PDF
申请/专利权人武汉工程大学;
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申请/专利号CN201810344169.7
发明设计人颜昌亚;何姗姗;刘磊;李振瀚;黄昆涛;
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申请日2018-04-17
分类号G01B11/00(20060101);G01B11/24(20060101);
代理机构11212 北京轻创知识产权代理有限公司;
代理人杨立;李蕾
地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
入库时间 2023-06-19 07:30:52

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-01-01

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20180417

实质审查的生效
2018-12-07

公开

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