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一种检测磁源深度的测磁阵列装置及方法

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摘要

本发明涉及一种检测磁源深度的测磁阵列装置，包括：第一测磁传感器单元、第二测磁传感器单元和第三测磁传感器单元，每组所述测磁传感器单元之间按预设间距水平排列，所述第一测磁传感器单元包括上下放置的第一测磁传感器和第四测磁传感器，所述第二测磁传感器单元包括上下放置的第二测磁传感器和第五测磁传感器，所述第三测磁传感器单元包括上下放置的第三测磁传感器和第六测磁传感器。本发明还涉及一种检测磁源深度的方法，通过得到的两组磁异常信号来计算两个磁源目标深度，并将两个磁源目标深度取平均值得到最终磁源深度。本发明能够有效检测磁源深度，实用性较好。

著录项

  • 公开/公告号CN112213380A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海达铭科技有限公司;

    申请/专利号CN202011078273.X

  • 发明设计人 于润桥;胡博;杨勇捍;夏桂锁;程强强;程东方;

    申请日2020-10-10

  • 分类号G01N27/82(20060101);G01R33/02(20060101);G01B7/26(20060101);

  • 代理机构31233 上海泰能知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋缨

  • 地址 201203 上海市自由贸易试验区芳春路400号1幢3层

  • 入库时间 2023-06-19 09:32:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-15

    授权

    发明专利权授予

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