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公开/公告号CN113484155A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国工程物理研究院激光聚变研究中心;
申请/专利号CN202110763843.7
发明设计人 朱方华;王宇光;徐嘉靖;李娃;张伟;晏良宏;
申请日2021-07-06
分类号G01N3/12(20060101);G01N3/06(20060101);G01N3/04(20060101);
代理机构11369 北京远大卓悦知识产权代理有限公司;
代理人贾晓燕
地址 621000 四川省绵阳市科学城绵山路64号
入库时间 2023-06-19 12:49:58
机译: 力学性能测量系统和力学性能测量方法
机译: 一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超导薄膜的表面电阻的测量方法,一种超薄薄膜共振电路的Q值的测量方法,一种用于超导薄膜的超导体的表面电阻的测量方法以及一种方法
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