公开/公告号CN113705606A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-26
原文格式PDF
申请/专利权人 中盈优创资讯科技有限公司;
申请/专利号CN202110823835.7
发明设计人 赵培树;
申请日2021-07-21
分类号G06K9/62(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G06Q10/00(20120101);G06Q10/06(20120101);
代理机构31407 上海嘉蓝专利代理事务所(普通合伙);
代理人金波
地址 200000 上海市嘉定区安亭镇杭桂路1112号10层1004室-4
入库时间 2023-06-19 13:24:42
机译: 晶片质量检验方法和装置,以及包括晶片质量检验方法的半导体器件制造方法
机译: 质量检验方法,质量检验装置和质量检验系统
机译: 质量检验方法,质量检验装置和质量检验系统