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基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法

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本发明提出了一种基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法。本发明通过分析集电极‑发射极通态压降和IGBT疲劳老化的关系，利用最小二乘法建立初始老化模型，进而对噪声序列进行平稳性检验，进而建立基于GARCH模型的IGBT老化模型，评估IGBT老化状态，提高IGBT寿命预测的精度。本发明解决了IGBT具体生产工艺引起个体差异和实际工况带来的影响。根据功率循环加速老化试验建立集电极‑发射极通态压降VCE，on与功率循环次数的数学模型，可精确地得到单个IGBT模块的老化状态。

著录项

公开/公告号CN113919116A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-11

原文格式PDF
申请/专利权人武汉大学;南京南瑞继保电气有限公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司;
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申请/专利号CN202010656706.9
发明设计人白梁军;汪涛;周扬;黄萌;张茂强;文继锋;卢宇;李响;
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申请日2020-07-09
分类号G06F30/20(20200101);G06F119/02(20200101);G06F119/04(20200101);
代理机构
代理人
地址 430070 湖北省武汉市武昌珞珈山
入库时间 2023-06-19 13:51:08

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