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基于最优插值的再分析地表太阳辐射数据误差修正方法

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本发明提供了一种基于最优插值的再分析地表太阳辐射数据误差修正方法，利用再分析模拟的栅格数据与地面站点观测数据之间的误差的空间协方差结构，基于最小二乘最小化原理，构建权重函数，对再分析模拟的栅格数据按照栅格单元进行调整，以每个栅格为单位进行误差校正，使得校正值的最小平方误差最小。本发明的有益效果是：具有有效减小再分析栅格数据的系统误差，改善其变异性的特点。

著录项

公开/公告号CN113946797A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-18

原文格式PDF
申请/专利权人中国地质大学(武汉);
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申请/专利号CN202111400036.5
发明设计人张明;王紫嫣;王伦澈;
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申请日2021-11-19
分类号G06F17/18(20060101);G06F17/16(20060101);
代理机构42238 武汉知产时代知识产权代理有限公司;
代理人魏波
地址 430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
入库时间 2023-06-19 13:57:16

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