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一种测量亚铁磁垂直各向异性薄膜的平面霍尔电阻的方法

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本发明涉及磁性材料及磁电输运测量技术领域，尤其涉及一种测量亚铁磁垂直各向异性薄膜的平面霍尔电阻的方法。相较于通过传统的电输运测量方法表征磁性材料的平面霍尔电阻，本发明去除反常霍尔电阻对亚铁磁垂直各向异性薄膜的平面霍尔电阻测量的影响。通过该方法可准确地获得亚铁磁垂直各向异性薄膜在磁矩补偿温度(或磁矩补偿点)附近的平面霍尔电阻，为研发基于亚铁磁平面霍尔效应的磁传感器和磁性随机存储器提供了技术支持。此外，该方法为研究亚铁磁材料复杂的电输运特性提供了丰富的探测和分析方法。

著录项

公开/公告号CN114034932A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-11

原文格式PDF
申请/专利权人之江实验室;
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申请/专利号CN202111298680.6
发明设计人陈焕坚;
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申请日2021-11-04
分类号G01R27/08(20060101);G01R33/12(20060101);
代理机构11435 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人奚丽萍
地址 310023 浙江省杭州市余杭区文一西路1818号
入库时间 2023-06-19 14:09:38

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-03-01

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/08 专利申请号:2021112986806 申请日:20211104

实质审查的生效

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