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基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法

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本发明属于石油天然气勘探开发技术领域，具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。该方法首先确定砂岩段的深度；然后确定砂岩段的非扩径段和扩径段；接着对非扩径段的实测数据进行回归分析，所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值，得到非扩径段关系模型，并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型；最后根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线，以及扩径段关系模型，得到扩径段校正后的密度测井曲线。本发明确定的地层密度更准确，更接近真实的地层密度测井值。该方法可操作性强，影响因素小，校正准确度高，可以提高油气田勘探和开发中致密砂岩气层识别成功率。

著录项

公开/公告号CN114063193A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-18

原文格式PDF
申请/专利权人中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司华北油气分公司;
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申请/专利号CN202010777849.5
发明设计人赵荣华;张威;贾会冲;曹桐生;赵兰;王路;丁烽娟;
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申请日2020-08-05
分类号G01V13/00(20060101);
代理机构41119 郑州睿信知识产权代理有限公司;
代理人史萌杨
地址 100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
入库时间 2023-06-19 14:14:25

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2022-03-08

实质审查的生效 IPC(主分类):G01V13/00 专利申请号:2020107778495 申请日:20200805

实质审查的生效

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