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一种DFT测试装置、测试系统以及测试方法

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本发明公开一种提供一种DFT测试装置、测试系统以及测试方法，涉及数字电路技术领域，能够在不损失测试覆盖率的前提下，减少DFT测试的功耗。所述DFT测试装置包括：输入寄存单元、独热码发生器、多个第一数据选择器以及多个时钟门控器。输入寄存单元的输出端与独热码发生器的输入端电连接，独热码发生器的多个输出端分别与多个第一数据选择器的第一输入端一一对应电连接。多个第一数据选择器的选择端，以及多个第一数据选择器的第二输入端均与外部扫描使能信号端电连接，多个第一数据选择器的输出端与多个时钟门控器的测试使能端电连接。多个时钟门控器的使能端均与同一外部功能逻辑信号端电连接。

著录项

公开/公告号CN114113989A

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-01

原文格式PDF
申请/专利权人成都爱旗科技有限公司;
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申请/专利号CN202210090568.1
发明设计人李仲勋;刘彬斌;
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申请日2022-01-26
分类号G01R31/317(20060101);G01R31/3177(20060101);G01R31/3185(20060101);G01R31/319(20060101);
代理机构11628 北京知迪知识产权代理有限公司;
代理人王胜利
地址 610017 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天华二路219号C12栋17层
入库时间 2023-06-19 14:20:35

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2022-03-01

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发明专利申请公布

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