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一种DFT测试装置、测试系统及DFT测试方法

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本发明公开一种DFT测试装置、测试系统及DFT测试方法，涉及芯片测试技术领域，以解决采用增加测试向量数目，来解决损失测试覆盖率的问题时，会导致测试效率降低的技术问题。DFT测试装置包括：控制单元和时钟门控单元。控制单元的输入端与扫描使能信号端电连接，输出端与时钟门控单元的测试使能端电连接，时钟门控单元的使能端与功能逻辑信号端电连接。移位阶段，向控制单元提供第一信号，控制单元输出第一控制信号控制时钟门控单元打开。捕获阶段，向控制单元提供第二信号，控制单元输出的第二控制信号和功能逻辑信号控制时钟门控单元打开或关闭。测试系统包括上述技术方案所提的DFT测试装置。本发明的DFT测试装置用于芯片测试。

著录项

  • 公开/公告号CN113238143B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都爱旗科技有限公司;

    申请/专利号CN202110775080.8

  • 发明设计人 李仲勋;

    申请日2021-07-09

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构11628 北京知迪知识产权代理有限公司;

  • 代理人王胜利

  • 地址 610094 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天华二路219号C12栋17层

  • 入库时间 2022-08-23 12:47:13

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